Auteurs

1 product gevonden.
Gericht en gepast: gehechtheid in het diagnostische proces

Gericht en gepast: gehechtheid in het diagnostische proces

Anne Tharner Marije L. Verhage Mirjam Oosterman Mariëlle Abrahamse Lianne Bakkum Alice van Dijk-Lokkart Mirte Forrer Hans Giltaij Frank van der Horst Caroline Jonkman Rianne Kok Maartje Luijk Frederike Scheper Carlo Schuengel Paula Sterkenburg

Vervolg op ‘Meten is weten? Dilemma’s bij het in kaart brengen van gehechtheid in onderzoek en praktijk’In dit artikel reageren wij op de reactie van Spruit en collega’s (TvO 5-2024) op ons eerdere...
Meer info
€ 3,90
Onderdeel van TvO 2025-4